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宋起柱主任出席“RFID与物联网高峰论坛”并做重要演讲
3月16日—18日,2010年首届亚洲智能卡工业展暨RFID与物联网高峰论坛在香港亚洲世界博览馆隆重举行。此次亚洲智能卡工业展是由法国高美爱博览集团主办,展会共展出面积5500平方米,共有来自汇聚逾115家来自世界各地的参展商参展,包括国内的众多知名企业也参加此次的国际展会。
中国信息产业商会作为此次展览中国地区的战略合作伙伴,特设了以
“国家金卡工程优秀成果展”为主题的中国展馆。 国家无线电监测中心检测中心被选为重点展示单位,在中国展馆区的明显区域设立了展台,全面展示了检测中心的业务和品牌形象。展会期间,通过与数十家国外生产厂商进行沟通和交流,首次向海外推介了“SRTC”作为国家级重点实验室的领导者地位。
作为此次展会的重要组成部分,“RFID与物联网高峰论坛”更是汇聚了中国RFID产业的全部行业龙头企业和精英人士,论坛围绕着中国RFID与物联网的发展与应用进行了充分的研讨。国家无线电监测中心检测中心宋起柱主任作为论坛邀请的重要嘉宾,做了题为“物联网应用中无线电技术频率管理与测试”的重要演讲,受到了与会者的关注和欢迎。同时,国家无线电监测中心在“中国RFID2009年度评选”活动颁奖仪式上还被荣幸地授予了“创新成果奖”奖牌。
作者:古松
时间:2010-03-14